雷达物位计是一种基于电磁波反射原理进行物位测量的先进设备,要实现测量无死角(即无盲区或尽可能减小盲区),可以从以下几个方面着手:
一、优化天线设计
天线优化:雷达物位计的天线被进一步优化处理,以提高信号的发射和接收效率。
测量范围与天线:最小测量范围通常与天线的设计有关。通过改进天线结构,可以减小测量盲区,从而扩大测量范围。
二、信号处理技术
快速微处理器:内部采用新型的快速微处理器,能够进行更高速率的信号分析处理,提高测量精度和响应速度。
信号增强:通过先进的信号处理技术,如信号放大、滤波和降噪等,增强反射信号的强度和质量,从而更准确地测量物位。
三、测量参数设置
零点设置:若介质为低介电常数,当其处于低液位时,罐底可见。为保证测量精度,建议将零点设置在低高度为C的位置。
安全距离:对于过溢保护,可以定义一段安全距离附加在盲区上,以确保测量的安全性和准确性。
测量范围限制:当测量范围超出时,仪表输出为22mA电流,这可以作为超量程的警示信号。
四、测量条件考虑
罐底形状:测量范围从波束触及罐底的那一点开始计算。在特殊情况下,若罐底为凹型或锥形,当物位低于此点时无法进行测量。因此,在选择雷达物位计时,需要考虑罐底的形状和尺寸。
介质特性:不同浓度的泡沫既能吸收微波,又能反射微波。在一定的条件下,雷达物位计可以进行测量,但需要考虑泡沫对测量结果的影响。
腐蚀和粘附:理论上测量可以达到天线尖端的位置,但考虑到腐蚀及粘附的影响,测量范围的终值应距离天线的尖端至少100mm。
综上所述,雷达物位计通过优化天线设计、采用先进的信号处理技术、合理设置测量参数以及考虑测量条件等多种方式,可以实现测量无死角或尽可能减小盲区。在选择和使用雷达物位计时,需要根据实际应用场景和需求进行综合考虑和选择。